Surtronic S116-Taylor Hobson粗糙度儀

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Surtronic S116-Taylor Hobson粗糙度儀上海代理

1、簡單介紹

Surtronic S116泰勒粗糙度儀是Surtronic S100 系列的標準產(chǎn)品，堅固耐用，性能*的表面粗糙度測量儀，因為體型小巧便于重量輕，所以方便攜帶。Surtronic S116泰勒粗糙度儀可以在任何表面，任何高度進行測量，配備的4.3寸大尺寸觸屏，容量大，顯示信息一目了然，操作方便且智能，一頁上可顯示多至7個參數(shù)。包括一個50mm長的測針升降裝置和直角附件，在不需要昂貴的墊塊、支架或工裝的情況下，對挑戰(zhàn)性的測量位置進行檢測。防滑的V型腳架設計使系統(tǒng)能夠用在平滑或彎曲的平面上。測針還能夠反方向底部測量

Surtronic S116

2、技術參數(shù)

數(shù)據(jù)顯示：	顯示屏每頁顯示7個測試結果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖）
	可以打印測試結果和圖形
	使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結果
數(shù)據(jù)存儲	儀器可以存儲100個測試數(shù)據(jù)和一個圖形
	儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結果，共70批數(shù)據(jù)。
	使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。
電源：	充電器	USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz
	充電時間	4小時
	電池壽命	充電一次可以做2000次測試
	待機時間	5000小時,由待機狀態(tài)到開機測試狀態(tài)，zui長時間不超過1秒I
	自動關機	30秒– 6小時可以自行設置
技術指標	測量范圍	400 um 100 um 10 um
	分辨率	50 nm 20 nm 5 nm
	底噪(Ra	150 nm 100 nm 50 nm
	重復精度 (Ra)	1%測試值+底噪
	傳感器原	電感
	測量力	50-300mg
	測針針尖半徑	標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin)
	測試方式	滑動掃描
自動軟件校準	標準：ISO4287
測試參數(shù)	三個取樣長度	0.25mm、0.8mm、2.5mm
	二個濾波器	2CR、Gaussian
	評定長度	0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
	行程	17.5mm
測試速度	測試速度	1mm/sec(0.04 in/sec)
	回程速度	1.5mm/sec(0.06in/sec)
執(zhí)行標準	ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù)		Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù)		Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
ASME標準可以測量12個參數(shù)		Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
ASME標準可以測量13個參數(shù)		R3z (Daimler Benz)
ASME標準可以測量14個參數(shù)		um/uin